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产品
评估电子设备
监测高度
光束间距
光束数量
型材截面
LI 24-25-575-640 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 575
光束间距: 25 mm
光束数量: 24
型材截面: 12 x 24 mm
LI 32-25-775-840 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 775
光束间距: 25 mm
光束数量: 32
型材截面: 12 x 24 mm
LI 40-25-975-1040 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 975
光束间距: 25 mm
光束数量: 40
型材截面: 12 x 24 mm
LI 48-25-1175-1240 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 1175
光束间距: 25 mm
光束数量: 48
型材截面: 12 x 24 mm
LI 56-25-1375-1440 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 1375
光束间距: 25 mm
光束数量: 56
型材截面: 12 x 24 mm
LI 64-25-1575-1640 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 1575
光束间距: 25 mm
光束数量: 64
型材截面: 12 x 24 mm
LI 72-25-1775-1840 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 1775
光束间距: 25 mm
光束数量: 72
型材截面: 12 x 24 mm
LI 80-25-1975-2040 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 1975
光束间距: 25 mm
光束数量: 80
型材截面: 12 x 24 mm
LI 88-25-2175-2240 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 2175
光束间距: 25 mm
光束数量: 88
型材截面: 12 x 24 mm
LI 96-25-2375-2440 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 2375
光束间距: 25 mm
光束数量: 96
型材截面: 12 x 24 mm