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产品
评估电子设备
监测高度
光束间距
光束数量
型材截面
LA 88-25-2175-2360 I-D
评估电子设备: 集成
监测高度: 2175
光束间距: 25 mm
光束数量: 88
型材截面: 12 x 24 mm
LA 88-25-2175-2360 I-H
评估电子设备: 集成
监测高度: 2175
光束间距: 25 mm
光束数量: 88
型材截面: 12 x 24 mm
LA-D 8-25-175-360 I-D
评估电子设备: 集成
监测高度: 175
光束间距: 25 mm
光束数量: 8
型材截面: 12 x 24 mm
LA-D 8-25-175-360 I-H
评估电子设备: 集成
监测高度: 175
光束间距: 25 mm
光束数量: 8
型材截面: 12 x 24 mm
LA-D 16-25-375-560 I-D
评估电子设备: 集成
监测高度: 375
光束间距: 25 mm
光束数量: 16
型材截面: 12 x 24 mm
LA-D 16-25-375-560 I-H
评估电子设备: 集成
监测高度: 375
光束间距: 25 mm
光束数量: 16
型材截面: 12 x 24 mm
LA-D 24-25-575-760 I-D
评估电子设备: 集成
监测高度: 575
光束间距: 25 mm
光束数量: 24
型材截面: 12 x 24 mm
LA-D 24-25-575-760 I-H
评估电子设备: 集成
监测高度: 575
光束间距: 25 mm
光束数量: 24
型材截面: 12 x 24 mm
LA-D 32-25-775-960 I-D
评估电子设备: 集成
监测高度: 775
光束间距: 25 mm
光束数量: 32
型材截面: 12 x 24 mm
LA-D 32-25-775-960 I-H
评估电子设备: 集成
监测高度: 775
光束间距: 25 mm
光束数量: 32
型材截面: 12 x 24 mm