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产品
评估电子设备
监测高度
光束间距
光束数量
型材截面
LA 40-25-975-1160 I-D
评估电子设备: 集成
监测高度: 975
光束间距: 25 mm
光束数量: 40
型材截面: 12 x 24 mm
LA 40-25-975-1160 I-H
评估电子设备: 集成
监测高度: 975
光束间距: 25 mm
光束数量: 40
型材截面: 12 x 24 mm
LA 48-25-1175-1360 I-D
评估电子设备: 集成
监测高度: 1175
光束间距: 25 mm
光束数量: 48
型材截面: 12 x 24 mm
LA 48-25-1175-1360 I-H
评估电子设备: 集成
监测高度: 1175
光束间距: 25 mm
光束数量: 48
型材截面: 12 x 24 mm
LA 64-25-1575-1760 I-D
评估电子设备: 集成
监测高度: 1575
光束间距: 25 mm
光束数量: 64
型材截面: 12 x 24 mm
LA 64-25-1575-1760 I-H
评估电子设备: 集成
监测高度: 1575
光束间距: 25 mm
光束数量: 64
型材截面: 12 x 24 mm
LA 72-25-1775-1960 I-D
评估电子设备: 集成
监测高度: 1775
光束间距: 25 mm
光束数量: 72
型材截面: 12 x 24 mm
LA 72-25-1775-1960 I-H
评估电子设备: 集成
监测高度: 1775
光束间距: 25 mm
光束数量: 72
型材截面: 12 x 24 mm
LA 80-25-1975-2160 I-D
评估电子设备: 集成
监测高度: 1975
光束间距: 25 mm
光束数量: 80
型材截面: 12 x 24 mm
LA 80-25-1975-2160 I-H
评估电子设备: 集成
监测高度: 1975
光束间距: 25 mm
光束数量: 80
型材截面: 12 x 24 mm