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产品
评估电子设备
监测高度
光束间距
光束数量
型材截面
LA-D 56-12.5-688-860 I-D
评估电子设备: 集成
监测高度: 688
光束间距: 12.5 mm
光束数量: 56
型材截面: 12 x 24 mm
LA-D 56-12.5-688-860 I-H
评估电子设备: 集成
监测高度: 688
光束间距: 12.5 mm
光束数量: 56
型材截面: 12 x 24 mm
LA-D 64-12.5-788-960 I-D
评估电子设备: 集成
监测高度: 788
光束间距: 12.5 mm
光束数量: 64
型材截面: 12 x 24 mm
LA-D 64-12.5-788-960 I-H
评估电子设备: 集成
监测高度: 788
光束间距: 12.5 mm
光束数量: 64
型材截面: 12 x 24 mm
LA 8-25-175-360 I-D
评估电子设备: 集成
监测高度: 175
光束间距: 25 mm
光束数量: 8
型材截面: 12 x 24 mm
LA 8-25-175-360 I-H
评估电子设备: 集成
监测高度: 175
光束间距: 25 mm
光束数量: 8
型材截面: 12 x 24 mm
LA 24-25-575-760 I-D
评估电子设备: 集成
监测高度: 575
光束间距: 25 mm
光束数量: 24
型材截面: 12 x 24 mm
LA 24-25-575-760 I-H
评估电子设备: 集成
监测高度: 575
光束间距: 25 mm
光束数量: 24
型材截面: 12 x 24 mm
LA 32-25-775-960 I-D
评估电子设备: 集成
监测高度: 775
光束间距: 25 mm
光束数量: 32
型材截面: 12 x 24 mm
LA 32-25-775-960 I-H
评估电子设备: 集成
监测高度: 775
光束间距: 25 mm
光束数量: 32
型材截面: 12 x 24 mm